整合 TITAN™ 探針技術與晶圓級量測專業，開創新世代半導體與次太赫茲應用精準測試新紀元

新竹2025年9月15日 /美通社/ — 全球先進半導體測試解決方案領導廠商旺矽科技股份有限公司（MPI Corporation，以下簡稱「旺矽科技」）正式發表支援是德科技（Keysight Technologies，以下簡稱「是德科技」）全新 NA5305A/7A PNA-X 擴頻模組的整合式 250 GHz 寬頻測試解決方案。此方案結合旺矽深厚的次太赫茲探測技術與晶圓級量測實力，搭配 TITAN™ 射頻探針與旺矽探針台平台，提供業界領先的高達 250 GHz 寬頻 S 參數量測能力。

此最新里程碑凝聚旺矽科技於高頻測量領域的深厚技術經驗，包括早期突破 200 GHz 寬頻探針測量極限的解決方案。此成果同時也彰顯與是德科技的深化合作，透過結合業界領先的測試儀器與旺矽先進的晶圓級測試方案，滿足持續成長的次太赫茲測試需求。

旺矽科技先進半導體測試事業部總經理Stojan Kanev表示：「旺矽是首家實現高達250 GHz實時單次掃描校準及支援單端／差分晶圓級測量的企業。此成就建立於我們在200 GHz以上寬頻晶圓量測領域經多年驗證的解決方案及優異實績。全新250 GHz解決方案結合TITAN™探針技術與系統整合專長，能提供穩定可重複之測量結果、清晰的探針尖可視性，以及確保設置安全且簡便的保護機制設計，協助工程師節省時間、保護系統並達成最佳效能。」

專為次太赫茲精度打造 
此 250 GHz 解決方案包含旺矽科技TITAN™單端式T250MAK 與差分式 T250MSK 探針，採用全新 0.5 毫米寬頻同軸連接器，分別針對寬頻元件量測與高速差分測試而設計。探針具備以下特點：

• 在全頻段範圍內實現超低插入損耗與優異回波損耗
• 獨特的針尖可視設計與卓越機械穩定性，確保精準對位、接觸可靠與數據一致
• 伸縮式針尖保護設計，確保操作安全
• 提供單端（GSG）與差分（GSGSG）配置，針對不同元件需求最佳化

TITAN™ T250系列探針可與旺矽科技全系列探針台平台完美整合，支援溫控晶圓級量測，最大限度減少人工操作，確保系統的最佳重複性。

是德科技觀點 
是德科技產品經理 David Tanaka 表示：「旺矽科技在高頻晶圓探針技術的持續創新，對於擴展我們寬頻向量網路分析儀平台的量測能力具有關鍵作用。他們的 TITAN™ 探針提供了實現我們 250 GHz 解決方案所需的精度、重複性與系統級整合能力。這次合作將有助於我們因應日益增長的次太赫茲先進測試需求。」

滿足半導體創新者不斷演進的技術需求

隨著人工智慧、5G/6G 及高速光通訊技術推動半導體性能邁向新高，測試與量測工具必須同步演進。旺矽科技 250 GHz 寬頻測試系統因應此需求，提供：

• 支援最高達 250 GHz 之全校準單掃描寬頻 S 參數測量
• 支援調製寬頻及非線性量測能力
• 可與主流測試儀器無縫整合，打造完整量測鏈

旺矽科技最新解決方案已部署於多家重要客戶與合作夥伴的評估環境，並於台灣及美國設有展示系統。該解決方案預計將於 2025 年在荷蘭烏特勒支舉辦的歐洲微波週(EuMW）首次公開亮相並進行現場演示。

關於旺矽科技股份有限公司

旺矽科技成立於 1995 年，總部位於台灣新竹，是全球領先的先進元件與晶圓級量測半導體測試解決方案供應商。公司旗下先進半導體測試（AST）事業部專注於射頻/毫米波探針測試、高功率元件量測、矽光子（SiPh）技術，以及晶圓級可靠性測試。憑藉 TITAN™ 射頻探針系列、WaferWallet® 自動化系統與 TS/IFE 探針台平台系列等創新產品，旺矽科技提供高精度、高可靠與高效能的半導體測試解決方案。

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